Oled IVL 測試設(shè)備

1. OLED IVL測試設(shè)備（TEG）主要用于測試OLED TEG產(chǎn)品的IVL特性曲線、EQE及光譜參 數(shù)等（IVL機臺可集成積分球式EQE測試系統(tǒng)）；
2. 可增加溫度控制功能，實現(xiàn)不同溫度下的IVL測試；視角測量時CCD自動進行位置補償，保 證測試的準確性；
3. 有效屏蔽外界信號干擾，保證低壓下也能有光滑的IV曲線；
4. 方便的軟件操作界面，可預(yù)點亮，可一鍵設(shè)定后自動完成所有工作的IVL測試；