1. OLED IVL測試設備(TEG)主要用于測試OLED TEG產(chǎn)品的IVL特性曲線(xiàn)、EQE及光譜參 數等(IVL機臺可集成積分球式EQE測試系統);
2. 可增加溫度控制功能,實(shí)現不同溫度下的IVL測試;視角測量時(shí)CCD自動(dòng)進(jìn)行位置補償,保 證測試的準確性;
3. 有效屏蔽外界信號干擾,保證低壓下也能有光滑的IV曲線(xiàn);
4. 方便的軟件操作界面,可預點(diǎn)亮,可一鍵設定后自動(dòng)完成所有工作的IVL測試;