Oled 模組批量老化設(shè)備

1.大規(guī)模模組老化測(cè)試系統(tǒng)是通過(guò)Keithley3706A數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)采集硅光電二極管的 光電流/光電壓從而得到AMOLED模組相對(duì)亮度的變化過(guò)程，可在單個(gè)模組或屏體 上增加多個(gè)硅光電二極管來(lái)實(shí)現(xiàn)多個(gè)位置的亮度老化監(jiān)控；支持圖片自定義切換， 支持RGBW等多種Pattern的老化性能測(cè)試分析；
2.該方案非常適合于大規(guī)模的模組老化測(cè)試，最大可支持250個(gè)模組同時(shí)老化測(cè)試； 同時(shí)可集成箱體溫控功能，實(shí)現(xiàn)高溫加速老化測(cè)試。